طیف شناسی الکترون اوژه
فرهنگستان زبان و ادب
دانشنامه عمومی
طیف شناسی الکترون اوژه[ ۱] ( به انگلیسی: Auger electron spectroscopy یا AES ) ، روشی رایج در آنالیز است که به صورت ویژه در مطالعهٔ سطوح و در حالت عمومی تر، در مبحث علم مواد به کار می رود.
اساس تکنیک طیف سنجی، اثر اوژه است، همان گونه که نام گذاری شده است بر اساس آنالیز الکترون های پرانرژی تابش شده از یک اتم برانگیخته پس از یک سری رخدادهای وارفتگی درونی است. اثر اوژه به طور مستقل به وسیلهٔ لایس میتنر و پیر اوژه در دههٔ ۱۹۲۰ میلادی کشف شد. گرچه این اکتشاف به وسیلهٔ میتنر بود و درابتدا در روزنامهٔ Zeitschrift für Physik در ۱۹۲۲ منتشر شد، اما اوژه در بسیاری از جوامع علمی به عنوان کاشف این اثر شناخته می شود. [ ۲] تا اوایل دههٔ ۱۹۵۰، انتقال های اوژه به وسیلهٔ طیف شناسان به عنوان آثاری مزاحم شناخته می شدند و شامل اطلاعات موادی مرتبط زیادی نبودند، اما برای بیان ناهنجاری ها در اطلاعات طیف سنجی پرتو ایکس به کار می رفتند. با این وجود از سال ۱۹۵۳، AES یه تکنیکی کاربردی و توصیف سرراست برای تفحص محیط های سطحی شیمیایی و ترکیبی تبدیل شده است و در متالورژی، شیمی حالت گاز و در صنعت ریزالکترونیک ها کاربردهایی پیدا کرده است.
انرژی حدود ۲ تا ۵۰ الکترون ولت برای جداسازی الکترونی از لایه های درونی یک اتم کافیست. هنگامیکه الکترونی، اتم را ترک کند، یک جای خالی از خود بجا می گذارد. الکترون های لایه های بالاتر که پرانرژی ترند می توانند به این جای خالی رفته و انرژی آزاد کنند. انرژی آزاد شده می تواند به دو گونه باشد، یا به صورت فوتون تابش شود یا به الکترون دیگری منتقل شده و باعث شود آن الکترون از اتم به بیرون پرتاب شود. الکترونی که بدین گونه از اتم خارج می شود را الکترون اوژه گویند.
• آنالیز ترکیبی منطقه ۵ تا ۳ نانومتر نزدیک سطح برای تمام عناصر به جز هیدروژن و هلیم
• رسم منحنی عمق – ترکیب و آنالیز فیلم نازک
• آنالیز شیمیایی تجزیه جانبی بالای سطح و مطالعات ناهمگون برای تعیین متغیرهای ترکیبی در محدوده بزرگ تراز ۱۰۰ نانومتر
• آنالیز مرزدانه و دیگر سطوح مشترک به وجود آمده شده به وسیله ترک
• تشخیص فازها در مقاطع میانی
• آنالیز عدم خلوص سطوح مواد برای تضمین کارکرد آن در خواصی مثل خوردگی، فرسودن، تحریک ثانوی الکترون و تجزیه
• تشخیص محصولات واکنش شیمیایی برای مثال در اکسایش و خوردگی
• ارزیابی ترکیبی در عمق فیلم های سطحی، پوشش، و فیلم های نازک به کار رفته برای تغییر و تبدیل مختلف سطوح متالوژیکی و کاربرد میکروالکترونیک
• آنالیز شیمیایی مرزدانه برای ارزیابی نقش رسوب مرزدانه ای و تفکیک محلول روی خواص مکانیکی، خوردگی و خوردگی تنشی
این نوشته برگرفته از سایت ویکی پدیا می باشد، اگر نادرست یا توهین آمیز است، لطفا گزارش دهید: گزارش تخلفاساس تکنیک طیف سنجی، اثر اوژه است، همان گونه که نام گذاری شده است بر اساس آنالیز الکترون های پرانرژی تابش شده از یک اتم برانگیخته پس از یک سری رخدادهای وارفتگی درونی است. اثر اوژه به طور مستقل به وسیلهٔ لایس میتنر و پیر اوژه در دههٔ ۱۹۲۰ میلادی کشف شد. گرچه این اکتشاف به وسیلهٔ میتنر بود و درابتدا در روزنامهٔ Zeitschrift für Physik در ۱۹۲۲ منتشر شد، اما اوژه در بسیاری از جوامع علمی به عنوان کاشف این اثر شناخته می شود. [ ۲] تا اوایل دههٔ ۱۹۵۰، انتقال های اوژه به وسیلهٔ طیف شناسان به عنوان آثاری مزاحم شناخته می شدند و شامل اطلاعات موادی مرتبط زیادی نبودند، اما برای بیان ناهنجاری ها در اطلاعات طیف سنجی پرتو ایکس به کار می رفتند. با این وجود از سال ۱۹۵۳، AES یه تکنیکی کاربردی و توصیف سرراست برای تفحص محیط های سطحی شیمیایی و ترکیبی تبدیل شده است و در متالورژی، شیمی حالت گاز و در صنعت ریزالکترونیک ها کاربردهایی پیدا کرده است.
انرژی حدود ۲ تا ۵۰ الکترون ولت برای جداسازی الکترونی از لایه های درونی یک اتم کافیست. هنگامیکه الکترونی، اتم را ترک کند، یک جای خالی از خود بجا می گذارد. الکترون های لایه های بالاتر که پرانرژی ترند می توانند به این جای خالی رفته و انرژی آزاد کنند. انرژی آزاد شده می تواند به دو گونه باشد، یا به صورت فوتون تابش شود یا به الکترون دیگری منتقل شده و باعث شود آن الکترون از اتم به بیرون پرتاب شود. الکترونی که بدین گونه از اتم خارج می شود را الکترون اوژه گویند.
• آنالیز ترکیبی منطقه ۵ تا ۳ نانومتر نزدیک سطح برای تمام عناصر به جز هیدروژن و هلیم
• رسم منحنی عمق – ترکیب و آنالیز فیلم نازک
• آنالیز شیمیایی تجزیه جانبی بالای سطح و مطالعات ناهمگون برای تعیین متغیرهای ترکیبی در محدوده بزرگ تراز ۱۰۰ نانومتر
• آنالیز مرزدانه و دیگر سطوح مشترک به وجود آمده شده به وسیله ترک
• تشخیص فازها در مقاطع میانی
• آنالیز عدم خلوص سطوح مواد برای تضمین کارکرد آن در خواصی مثل خوردگی، فرسودن، تحریک ثانوی الکترون و تجزیه
• تشخیص محصولات واکنش شیمیایی برای مثال در اکسایش و خوردگی
• ارزیابی ترکیبی در عمق فیلم های سطحی، پوشش، و فیلم های نازک به کار رفته برای تغییر و تبدیل مختلف سطوح متالوژیکی و کاربرد میکروالکترونیک
• آنالیز شیمیایی مرزدانه برای ارزیابی نقش رسوب مرزدانه ای و تفکیک محلول روی خواص مکانیکی، خوردگی و خوردگی تنشی
wiki: طیف شناسی الکترون اوژه
پیشنهاد کاربران
پیشنهادی ثبت نشده است. شما اولین نفر باشید