باریکه یونی متمرکز

باریکه یونی متمرکز یا بیم ( به انگلیسی: Focused Ion Beam also known as FIB ) روشی برای نمونه سنجی است که در آن از باریکه متمرکز یون ها برای تصویرسازی یا لایه برداری از نمونه استفاده می شود. این تکنیک در فناوری نیمه رسانا، مهندسی و علم مواد و ماشین کاری کاربرد دارد. از دیگر زمینه های کاربرد این فناوری زیست شناسی است که برای تجزیه و تحلیل، رسوب دهی و فرسودن بکار می رود. [ ۱]
اولین سیستم های باریکه یونی متمرکز بر پایه تکنولوژی میدان نشر و با استفاده از منابع یونیزاسیون میدان گاز ( اختصاری  GFIS ) در سال 1975 توسط لوی - ستی[ ۲] و سوانسون گورلوف[ ۳] توسعه یافتند.
ساخت اولین دستگاه باریکه یونی متمرکز بر پایه منابع یونیزاسیون میدان گاز در سال 1978 توسط سلیگر[ ۴] انجام شد.