ازمایش ویفر

آزمایش ویفر. آزمایش ویفر ( به انگلیسی: Wafer testing ) مرحله ای است که در طول ساخت افزاره های نیم رسانا انجام می شود. در طی این مرحله، قبل از ارسال ویفر برای آمایش دای، تمام مدارهای مجتمع مجزا که روی ویفر وجود دارند با اعمال الگوهای آزمایشی ویژه برروی آنها از نظر نقص عملکردی آزموده می شوند. آزمایش ویفر توسط قطعه ای از تجهیزات آزمایشی به نام کاونده ویفر انجام می شود. فرایند آزمایش ویفر را می توان به چند طریق ذکر کرد: آزمایش نهایی ویفر ( WFT ) ، جورکردن دای الکترونیکی ( EDS ) و پروب مدار ( CP ) احتمالاً رایج ترین آنها هستند.
کاونده ویفر همچنین هرگونه مدارات آزمون را روی خطوط نشانه گذاری ( به انگلیسی: scribe lines ) ویفر اعمال می کند. برخی از شرکت ها بیشتر اطلاعات خود را در مورد عملکرد قطعه از این ساختارهای آزمون خط نشانه گذاری به دست می آورند. [ ۱] [ ۲] [ ۳]