tem

کلمات اختصاری

عبارت کامل: Transmission Electron Microscopy
موضوع: علمی
میکروسکوپ الکترونی عبوری یا TEM نوعی میکروسکوپ الکترونی است که قابلیت عکس برداری از ریزساختار مواد با بزرگنمایی ۱٬۰۰۰ تا ۱٬۰۰۰٬۰۰۰ برابر با قدرت تفکیکی در حد کوچک تر از ۱ نانومتر را دارد. میکروسکوپ الکترونی عبوری همچنین توانایی آنالیز عنصری، تعیین ساختار و جهت کریستالی اجزایی به کوچکی ۳۰ نانومتر را به صورت کیفی و کمی دارد.

تخصصی

[برق و الکترونیک] transmission electrol microscope-میکروسکوپ ارسال الکترونی میکروسکوپی که در آن به جای نور مرئی در میکروسکوپ معمولی از باریکه های الکترونی استفاده می شود . باریکه های الکترونی با پیچکهای الکترومغناطیسی ساخته می شوند که عملکردی مانند عملکرد عدسیهای شیشه ای روی نور دارند . فیلمانی منبع باریکه الکترونی ولتاژ بالا است که داخل مجموعه ای از عدسیهای همگرا کننده و سپس از داخل نمونه می گذرد.الکترونها ابتدا پراکنده می شوند و سپس به وسیله مجموعه ای از عدسیهای مغناطیسی کانونی می شوند تا تصویری را روی صفحه نمایش فلوئورسانس به وجود آورند .این صفحه نمایش را می توان از طریق چشمی مشاهده کرد . کاربرد اصلی TEM در پزشکی و ژنتیک است .

پیشنهاد کاربران

چقدر ارزان!
والّا ارزانه!
بخر دیگه!
برای دانشگاه ها وکارخانه مرتبطه ضروری هست.
نداری!
چرا داری؛ چندتا ماشین لوکس در پارکینگ زیرزمینی . . . بفروش وچندتا ابزار بیشرفته بخر!
MEIS. . .
... [مشاهده متن کامل]

ای میهن پرست!
ای فرزند خورشید!
ای نژاد برتر!
تحریممان نکنید ونگو تو تحریمیم!
لوازم نالازم آرایشی واتدکلن فرنسوی ولباس واثاثیات ویلا وآب آلپ پیره وساعت طلائی والماسی واینهمه لوکسریاا ولاکچریات . . . ها را پلاس . . . چطور با هواپیما وکشتی وکانتینر وکوله پشتی و. . . اوردی؟؟؟؟!!!
بسختی؟
آره جووون، خیلی سخته!

T. E. M
:
In Transmission Electron Microscopy a thin solid specimen ( 5 200 nm thick ) is bombarded in vacuumwith a highly - focused, monoenergetic beam of electrons. The beam is of sufficient energy to propagate through the specimen. A series of electromagnetic lenses then magnifies this transmitted electron signal. Diffracted electrons are observed in the form of a diffraction pattern beneath the specimen. This information is used to determine the atomic structure of the material in the sample. Transmitted electrons form images from small regions of sample that contain contrast, due to several scattering mechanisms associated with interactions between electrons and the atomic constituents of the sample.
... [مشاهده متن کامل]

Analysis of transmitted electron images yields information both about atomic structure and about defects present in the material.
- - - - - - - - Spec. :
Range of elements: TEM does not specifically identify elements measured.
Destructive: Yes, during specimen preparation.
Chemical bonding information
: Sometimes, indirectly from diffraction and image simulation
Quantification: Yes, atomic structures by diffraction; defect characterization by systematicimage analysis.
Accuracy: Lattice parameters to four significant figures using convergentbeam diffraction
Detection limits
: One monolayer for relatively high - Z materials.
Depth resolution: None, except there are techniques that measure sample thickness
Lateral resolution: Better than 0. 2 nm on some.
Imaging/mapping: Yes.
Sample requirements: Solid conductors and coated insulators. Typically 3 - mm diameter, c 200 - nm thick in the center.
Main uses :Atomic structure and Microstructural analysis of solid materials, providing high lateral resolution.
Instrument cost :$300, 000 - $1, 500, 000
Size :100 f to a major lab

temtem
TEM = Transmission Electron Microscopy
میکروسکوپ الکترونی گذاره
SEM = Scanning Electron Microscopy
میکروسکوپ الکترونی نگاره